老化箱_252kv高壓直流絕緣子熱破壞試驗室

前言：（老化箱_252kv高壓直流絕緣子熱破壞試驗室）

基於(yu) 中國幅員遼闊，地域麵積廣闊，資源不均衡，導致目前我國輸電線路及聯網（並網），需要跨區域、遠距離的傳(chuan) 輸；所以超高壓直流輸電事業(ye) 的發展也異常的迅速。隨著近年來輸電線路電壓等級的不斷提高，直流絕緣子的老化問題日趨嚴(yan) 峻。

直流絕緣子在在電力係統中應用很廣泛，尤其在直流輸電工程中的應用。用於(yu) 支持帶電導體(ti) 並使其絕緣的電器元件。一般由絕緣件(如瓷件)和金屬附件(如鋼腳、鐵帽、法蘭(lan) 等)用膠合劑膠合或機械卡裝而成。屬於(yu) 外絕緣,在大氣條件下工作。架空輸電線路、發電廠和變電所的母線和各種電氣設備的外部帶電導體(ti) 均須用絕緣子支持，並使之與(yu) 大地（或接地物）或其他有電位差的導體(ti) 絕緣。由於(yu) 其工作環境一直處於(yu) 大氣條件，那麽(me) 絕緣子本身的耐氣候老化性能也就成了電力部門非常關(guan) 心的重點問題。長期老化性能的優(you) 劣與(yu) 運行條件（如電應力、機械應力和熱應力、大氣自然環境溫濕度、紫外、臭氧）以及絕緣子內(nei) 在材質有很大關(guan) 係。在模擬絕緣子實際工作環境下的老化性能綜合試驗方麵主要包括：大氣環境的汙垢（防塵試驗）、降雨（淋雨試驗）、太陽輻射（光照老化試驗）、放電（局放試驗）、高溫高濕（高低溫交變濕熱試驗）、大氣中腐蝕性成分老化（複合鹽霧腐蝕試驗）等。老化箱_252kv高壓直流絕緣子熱破壞試驗室綜合解決(jue) 上述問題。

對於(yu) 瓷絕緣子材質在直流電壓下的老化成因，有人認為(wei) ，瓷質中的堿金屬離子，特別是Na’離子在遷移過程中由於(yu) 獲得電子而形成體(ti) 積比離子體(ti) 積大兩(liang) 倍的原子，局部膨脹應力致使絕緣子破裂(主要出現在絕緣子頭部);另外一種觀點認為(wei) .離子遷移造成了瓷件內(nei) 部電阻率不同的導電層，導致不均勻的電場分布，長時間作用後而出現擊其穿。為(wei) 了驗證其在運行狀態下的老化成因，電氣製造商必須對其進行自然大氣環境中的工作狀態的一種模擬測試。

滿足標準

1. GB/T 16927.1-2011  高電壓試驗技術 *部分：一般試驗要求

2. IEC 60-1：1989

3. GB/T11158-2006高溫箱技術條件

4.    4.GB/T 19443-2004    標稱電壓高於(yu) 1000V的架空線路用絕緣子-直流係統用瓷或玻璃絕緣子元件-定義(yi) 、試驗方法和接收準則

5. 5.IEC 61325:1995, MOD

主要技術參數

• 型號：　ZWS－28型    

• 恒溫箱內(nei) 部尺寸（D×W×H）： 2000×3000×4600 ㎜

• 溫度範圍：   RT+10℃～200℃

• 溫度均勻度：   ≤ 5℃  （200℃內(nei) ，空載時）

• 溫度波動度：   ±0.5℃ （空載時）

• 溫度偏差：   ≤±2℃

• 時間設定範圍：   0～9999 小時、分鍾、秒

• 數量：2套

• 直流高壓產(chan) 生測量係統：

輸出電壓：     0~+300kV  DC

電壓測量精度： △≤1%

  電壓脈動係數： δ≤1.5~3%

z大負載電流： Imax=100mA

電流測量精度： δ≤1%（注：總電流）

連續運行時間： T≥180天

• 絕緣子離子遷移測量係統

被測試品數量：   N≥54隻    （H=300mm Φ=320~600mm）

體(ti) 電阻測量：     R≥1010Ω    測量精度≤±3%

遷移電荷量測量： Q∶0～5C     測量精度≤±1%

溫度測量範圍：   室溫~200℃  測量精度≤±1℃

溫度控製的穩定性和均勻性偏差：±3~5℃

• 熱電破壞試驗測量係統：

試品數量：      N=56隻         （H=300mm Φ=320~600mm）

  體(ti) 電流測量：    0.001μA~1mA     測量精度≤±2%

溫度測量範圍：  室溫~200℃        測量精度≤±1℃

  溫度控製的穩定性和均勻性偏差：±3~5℃