全譜直讀光譜儀(yi) 采用標準的設計和製造工藝技術，采用全數字化技術，替代龐大的光電倍增管（PMT）模擬技術，采用真空光室設計及全數字激發光源、CMOS檢測器，高速數據讀出係統，使儀(yi) 器具有較高的性能、較低檢出線、長期的穩定性和重複性。

多功能W2型全譜直讀光譜儀(yi) 於(yu) 有色金屬設計的光譜儀(yi) W2型具有多功有色金屬設計的用於(yu) 測試鋁基、銅基、鎂基、鋅基、鈷基、錫基、鉛基等覆蓋了全元素分析範圍，根據用戶要求設定測量的元素通道。 光譜儀(yi) *異的長期穩定性和精密度光學係統采用Z高精密光柵，3600l/ｍｍ，配合多塊ＣＣＤ組合，確保光學係統Z高精度。創新設計的數字激發光源，鎢材料電極及氬氣噴射激發模式根據不同的材料設定不同的激發參數，使火花放

多功能W6型全譜直讀光譜儀(yi) 檢測基體(ti) ：鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基 全新立式全譜光譜采用標準的設計和製造工藝技術，采用全數字技術，替代龐大的光電倍增管（ＰＭＴ）模擬技術，與(yu) 光譜儀(yi) 技術同步，采用真空光學室設計及全數字激發光源、*的ＣＣＤ檢測器，高速數據讀出係統，使儀(yi) 器具有*的性能、極低的檢出線、長期的穩定性和重複性。

光譜直讀分析儀(yi) 的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態原子所吸收，由發射光譜被減弱的程度，進而求得樣品中待測元素的含量。它符合郎珀-比爾定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為(wei) 透射光強度，I0為(wei) 發射光強度，T為(wei) 透射比，L為(wei) 光通過原子化器光程由於(yu) L是不變值所以A=KC。